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北京恒奧德科技有限公司 010-51666869 傳 真:010-69807135 13120411557 18701256112 聯系人:李紅慧 1575574360 1321298635 1445496132 號院16號樓317 (北京市地質工程勘察院院內)
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電子薄膜應力分布測試儀
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電子薄膜應力分布測試儀
產品型號:BGS-6341 停產
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產品概述: | ||||||||||||||||||||||||
電子薄膜應力分布測試儀 型號:BGS-6341 該產品主要應用在微電子、光電子生產線上和科研、教學等領域Si、Ge、GaAs等半導體基片及電子薄膜應力分布、光學零件面形和平整度面形、 基片曲率
半徑測量測試。該儀器總測量點數多, 能給出全場面型分布結果, 適合于微電子生產線上產品質量的快速檢驗和微電子生產工藝研究。 儀器基于干涉計量的全場測試原理, 可實時觀測面型的分布, 迅速了解被測樣品的形貌及應力集中位置, 及時淘汰早期失效產品。
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