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導電微晶靜電場測試儀/靜電場測試儀
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導電微晶靜電場測試儀/靜電場測試儀
產品型號：HAD-DC-A
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導電微晶靜電場測試儀/靜電場測試儀 型號;HAD-DC-A 一、概述
在一些科學研究和生產實踐中，往往需要了解帶電體周圍靜電場的分布情況。一般來說帶電體的形狀比較復雜，很難用理論方法進行計算。用實驗手段直接研究和測繪靜電場通常也很困難。因為儀表（或其探測頭）放入靜電場，總要使被測場原有分布狀態發生畸變；而且除靜電式儀表之外的一般磁電式儀表不能用于靜電場的直接測量，因為靜電場中不會有電流流過，對這些儀表不起作用。所以，人們常用“模擬法”間接測繪靜電場的分布。
模擬法在科學實驗中有著極其廣泛的應用，其本質是用一種易于實現、便于測量的物理狀態或過程的研究去代替另一種不易實現、不便測量的狀態或過程的研究。為了克服直接測量靜電場的困難，我們可以仿造一個與待測靜電場分布完全一樣的電流場，用容易直接測量的電流場去模擬靜電場。本儀器就是利用不良導體導電微晶來模擬靜電場。
二、用途
1．描繪同軸電纜的靜電場分布；
2．描繪聚焦電極的電場分布。
三、儀器組成及技術參數
1．直流穩壓電源：1.25～10V，數顯，連續可調；
2．導電微晶：表面電導率分布均勻；
銀電極：燒結在導電微晶上，導電性能好；
3．同步探針：探測電極為導電橡膠，對導電微晶無磨損；
4．雙層固定支架。
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