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低阻抗分析儀/表面阻抗測試儀

產(chǎn)品型號：MCP-T370

產(chǎn)品概述:

低阻抗分析儀/表面阻抗測試儀型號:MCP-T370

四探針方案-一觸式高精度的各種材料的表面電阻率測量。
查找只需按下啟動按鈕，確認(rèn)自動測量功能，可自動保持當(dāng)前的測量值。
電池壽命可以采用鎳氫電池組可以方便地替換。
新增探頭校準(zhǔn)模式。檢查探頭校準(zhǔn)片（另售），以確認(rèn)Roresuta AX測試值的準(zhǔn)確性。
測量數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出到USB存儲器。

規(guī)格
測量方法	四端四探針法施加恒定電流的方法
測量范圍	10 ^-2〜10 ⁶ Ω
標(biāo)準(zhǔn)配置	四探針探頭（ASP）AC適配器說明書檢查確認(rèn)書

選項(xiàng)

探頭選項(xiàng)
類型	適用被測試樣品	型號
ESP	對于異類樣本	MCP - TP08P
PSP	小樣本的薄膜	MCP - TP06P
QPP	對于小樣本	MCP - TPQPP
TFP	有關(guān)硅晶片或玻璃基板薄膜	MCP - TFP