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能量色散X熒光分析儀/X熒光分析儀/能量色散X熒光檢測儀  型號：HA/CIT-3000SM

適用于礦山、選礦廠、冶煉廠、水泥等企業在生產過程中對產品質量進行監測；

1. HA/CIT-3000SM產品配置：

•  采用進口的美國AMPTEK航天技術的SI（PIN）半導體探測器系列
•  采用獨特專利數字脈沖采集電路及專利的電源管理技術
•  采用進口X光管
•  采用專用的X射線高壓發生器
•  采用RS232串口通訊
•  采用精密的系統控制電路和數字處理電路
•  采用專有的分析算法軟件模塊V2.0A
•  配備品牌電腦
•  配備常用的制樣工具
•  配備專用的壓片機
•  配備專用的測試樣環
•  配備專用的測試硬標樣

    2.HA/CIT-3000SM 技術指標：

•  分析元素范圍：Mg-U（主要是：Mg、Al、Si、P、S、Ca、Fe、Mn、Cu、Pb、Zn、Cr、Br、Cd）；
•  元素含量分析范圍：1ppm -99.99%（采用1024道多道分析器，分析精度更高）；
•  采用美國航天技術的Si (PIN)半導體探測器計數，配合專利的數字脈沖處理技術；
•  測量范圍：1－30KeV； 
•  管壓：0kV-30kV（激發源為 30KV-鎢靶微型X射線管）；
•  管流：5μA-200μA；（可減少整機功耗和降低輻射）；
•  整機功率：50W；
•  整機能量分辨率：150±5eV；
•  檢測時間： <200S；
•  工作環境溫度：溫度0-40℃；
•  工作環境相對濕度：≤99%（不結露）；
•  測量物質狀態：固體、粉末均可檢測，制樣簡單；
•  一體化設計，性能穩定，運行可靠，性價比高；操作簡單，測量時間短；