北京恒奧德科技有限公司 010-51666869 傳 真:010-69807135 13120411557 18701256112 聯(lián)系人:李紅慧 1575574360 1321298635 1445496132 號院16號樓317 (北京市地質(zhì)工程勘察院院內(nèi))
|
橢圓偏振測厚儀 偏振測厚儀 測厚儀 型號:TP-TPY-1
在近代科學(xué)技術(shù)的許多領(lǐng)域中對各種薄膜的研究和應(yīng)用日益廣泛。因此,更加精確和迅速的測定給定薄膜的光學(xué)參數(shù)已變得更加迫切和重要。在實際工作中可以利用各種傳統(tǒng)的方法測定光學(xué)參數(shù),如:布儒斯特角法測介質(zhì)膜的折射率,干涉法測膜厚,其它測膜厚的方法還有稱重法、X射線法、電容法、橢偏法等。由于橢圓偏振法具有靈敏度高、精度高、非破壞性測量等優(yōu)點,因而,橢圓偏振法測量已在光學(xué)、半導(dǎo)體、生物、醫(yī)學(xué)等諸多領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。
北京恒奧德科技有限公司 010-51666869 傳 真:010-69807135 13120411557 18701256112 聯(lián)系人:李紅慧 1575574360 1321298635 1445496132 號院16號樓317 (北京市地質(zhì)工程勘察院院內(nèi))
|