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北京恒奧德科技有限公司 010-51666869 傳 真：010-69807135 13120411557 18701256112 聯系人：李紅慧 1575574360 1321298635 1445496132 號院16號樓317 （北京市地質工程勘察院院內）
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新聞動態
中國飛利浦在我公司采購數臺粉末體積電阻率測定儀（兩用） 粉末電阻率測定儀！
粉末電阻率測試儀 半導體粉末電阻率測試儀
型號 HY8-FZ-2010
HHY8-FZ-2010半導體粉末電阻率測試儀是本公司根據能源方面，與其是鋰電池技術的研究需求，開發的最新型粉末電阻率測試儀。
本產品參照有關國際標準設計，配置粉末測試臺或四探針測試臺，可以對粉末、片狀、塊狀半導體材料以 及固態金屬進行電阻、電阻率、方塊電阻等多用途測量。
測量范圍：電阻10-4---106，分辨率1μΩ. ㎝。
電阻率 10-4---106，分辨率1μΩ. ㎝。
薄層電阻 10-3 ---- 107 Ω/□ ，分辨率10-5 Ω/□。
測量電壓量程：0.2mv\2mv\20mv\200mv\2v，分辨率0.1μν，測量精度 ±（0.3%讀數+2字）。
測量電流：0--100mA 連續可調。電流量程 1μΑ、10μΑ、100μΑ、1mΑ、10mΑ、100mΑ。
粉末測量：1、試樣粒度--標準篩網40目以上直至納米材料。 2、試樣容器---內腔φ16.30±0.1mm或φ6±0.1mm。 3、試樣高度---16mm±0.5mm或6~20mm±0.1mm。測量誤差±0.1mm。4、取樣壓力--4Mpa±0.5Mpa(40kg/cm2 ±0.5kg/cm2 )或8Mpa±0.5Mpa(80kg/cm2 ±0.75kg/cm2 )，壓力量程--0~200kg可調。
固體薄膜及半導體測量：四探針測試架---1、探針間距1mm±0.03mm；2、探針游移率﹤±0.3%；3、可測材料尺寸--直徑φ15~160mm，長度〈400mm。
顯示方式：3½位數字顯示電阻、電阻率、壓力、高度。單位、小數點自動顯示。
電源：220±10% 50HZ~60HZ 功率消耗〈150W。
外形尺寸： 440mm×120mm×420mm。
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