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   FZ-2010半導體粉末電阻率測試儀介紹

FZ-2010半導體粉末電阻率測試儀一套，可配有粉末測試臺、四探針測試架。

該儀器符合以下主要技術指標： 

1．測量范圍： 

電阻 10-4 – 106Ω, 分辨率 1μΩ ；

電阻率 10-4 – 106Ω•.cm，分辨率 1μΩ•cm；

薄層電阻  10-3~107Ω/□，分辨率10-5Ω/□；

測量誤差 ±（0.3% 讀數 + 2 字）。 

2．測量電壓量程：0.2 mV、2mV、20mV、 200mV、2V，分辨率 0.1 µV；

測量精度: ±（0.3% 讀數 + 2 字）。 

3.測量電流：0 - 100 mA 連續可調；

電流量程：1µA、10 µA、100 µA、 1 mA、10 mA、100mA。 

4.粉末測量:

試樣粒度:標準篩網40目以上,直至納米材料；

試樣容器：內腔Φ10 ± 0.1mm ；

試樣高度：16mm ± 0.5mm 或6-20mm ± 0.1mm；

測量誤差：±0.1mm 。

取樣壓力：4 Mpa ± 0. 5 Mpa ( 40 kg/cm² ± 0.5 kg/cm²)；

         或8 Mpa ± 0. 5 Mpa ( 80 kg/cm² ± 0.5 kg/cm²)；

壓力量程：0 - 190 kg 可調。 

5..固體薄膜及半導體測量:四探針測試架;

探針間距1 mm±0.03mm；

探針游移率<±0.3%；

可測材料尺寸,直徑Φ15~160,長度<400

6.顯示方式: 電阻、電阻率、壓力、高度為 3 1/2 數字顯示,并自動顯示單位和小數點。

7.電源：220 ± 10% , 50HZ-60HZ, 功率消耗<150W。

8.電氣箱外形尺寸：440mm×120mm×420mm 。

9.通過粉末測試架和固態四探針測試架對粉末、片狀、塊狀半導體材料進行電阻、電阻率、方塊電阻等多作途測量。

儀器主機和測試架

儀器主機

        四探針測試架示意圖

粉末測試臺

北京恒奧德科技有限公司

李紅慧    15810842463